Temporal electronic speckle pattern interferometry for real-time in-plane rotation analysis

A temporal electronic speckle pattern interferometry (ESPI) system is proposed for in-plane rotation measurement. The relationship between the rotation angle and the phase change distribution is established and the rotation direction is indicated by the sign of the partial differential of the phase...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Optics express 2018-04, Vol.26 (7), p.8744-8755
Hauptverfasser:	Wang, Shengjia, Lu, Min, Bilgeri, Laura Maria, Jakobi, Martin, Bloise, Félix Salazar, Koch, Alexander W
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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