Reduced resistance drift in tunnel junctions using confined tunnel barriers

Metal-insulator-metal (MIM) tunnel junctions with the aluminum oxide tunnel barriers confined between cobalt electrodes exhibit less resistance drift over time than junctions that utilize a thick, unconfined aluminum electrode. The improved long time stability is attributed to better initial oxide q...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2017-11, Vol.122 (18)
Hauptverfasser: Barcikowski, Z. S., Pomeroy, J. M.
Format: Artikel
Sprache:eng
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