Symmetry determination of the EL2 defect by numerical fitting of capacitance transients under uniaxial stress

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review. B, Condensed matter Condensed matter, 1994-01, Vol.49 (3), p.1690-1695
Hauptverfasser:	Yang, S, Lamp, CD
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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