$Real-time X-ray diffraction observation of a pin-slip mechanism in GexSi1-x strained layers$

Real-time X-ray diffraction observation of a pin-slip mechanism in GexSi1-x strained layers

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Physical review letters 1991-10, Vol.67 (18), p.2513-2516
Hauptverfasser:	LOWE, W, MACHARRIE, R. A, BEAN, J. C, PETICOLAS, L, CLARKE, R, DOS PASSOS, W, BRIZARD, C, RODRICKS, B
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties Exact sciences and technology Physics Solid surfaces and solid-solid interfaces Surface structure and topography Surfaces and interfaces thin films and whiskers (structure and nonelectronic properties)
Online-Zugang:	Volltext
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