Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials
This study presents an experimental procedure to fabricate high‐purity silica glass containing a selected element at a specified mass fraction. The procedure was used to prepare glasses doped with trace‐level mass fractions of Ti with the goal of improving analytical confidence when measuring trace...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Geostandards and geoanalytical research 2016-12, Vol.40 (4), p.505-516 |
---|---|
1. Verfasser: | |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
container_end_page | 516 |
---|---|
container_issue | 4 |
container_start_page | 505 |
container_title | Geostandards and geoanalytical research |
container_volume | 40 |
creator | Nachlas, William O. |
description | This study presents an experimental procedure to fabricate high‐purity silica glass containing a selected element at a specified mass fraction. The procedure was used to prepare glasses doped with trace‐level mass fractions of Ti with the goal of improving analytical confidence when measuring trace elements in quartz. Systematic tests were performed to determine the ideal conditions and procedures for doping nanoporous silica gel with the highest efficiency of dopant recovery. Silica gel was cleaned in concentrated HCl, immersed in a non‐polar doping medium at a controlled pH and doped with precise quantities of ICP‐MS standard solution. Using liquids composed of longer chain molecules as the doping medium diminishes recovery, suggesting that large molecules could obstruct nanopores to inhibit capillary uptake of the dopant. A control experiment using crystalline quartz reinforced the effectiveness of nanoporous silica gel for doping with trace‐level precision. Layered aggregates of silica gel doped with different Ti mass fractions were hot‐pressed to create multi‐layered reference materials that were analysed with multiple techniques at a variety of spatial scales. Analyses at the intra‐grain scale (cathodoluminescence scanning electron microscopy, electron probe microanalysis), at the single grain scale (SIMS), at the sample layer scale (EPMA, laser ablation‐ICP‐MS) and at the bulk scale (ICP‐OES) demonstrated acceptable homogeneity at sample volumes characteristic of most microanalysis techniques and show that nanoporous silica gel holds promise as a highly retentive doping substrate for preparing reference materials for laser‐, electron‐ and ion‐beam microanalysis.
Cette étude présente une procédure expérimentale permettant de produire des verres de silice de haute pureté mais contenant un élément particulier avec une fraction de masse spécifique. La procédure a été utilisée pour préparer des verres dopés au Ti à bas niveau de fractions de masse dans le but d'améliorer la fiabilité de mesures dans le quartz sur des éléments présents à l’état de traces. Des tests systématiques ont été effectués afin de déterminer les conditions et procédures permettant le dopage le plus efficace possible de gel de silice nano‐poreux. Le gel de silice a été nettoyé dans de l’HCl concentré, immergé dans un milieu dopant non polaire à pH contrôlé, et dopé avec des quantités précises d'une solution d’étalonnage pour ICP‐MS. L'efficacité de dopage diminue quand le milieu dop |
doi_str_mv | 10.1111/ggr.12120 |
format | Article |
fullrecord | <record><control><sourceid>proquest_cross</sourceid><recordid>TN_cdi_proquest_miscellaneous_1850769199</recordid><sourceformat>XML</sourceformat><sourcesystem>PC</sourcesystem><sourcerecordid>4266377621</sourcerecordid><originalsourceid>FETCH-LOGICAL-a3910-5cec50efa653f2dd389cce1acbb3a32921e4680e533f718f3c7cb15ca873eb453</originalsourceid><addsrcrecordid>eNp1kUlPwzAQhSMEEmU58A8scYFDwI7jJD4ilrCURbSo3CzXHReDGxc7FVT8eVwKHJCYy5vD92b09JJkh-ADEudwPPYHJCMZXkk6pGQk5bh6XI17QXma51W1nmyE8IwxyzkjneTjzoMyAZBsRuhIqZmXLaATNzXNGDmNbmTjps67WUA9Y42SqAaLtPOofQLUmzdRggkLtO-lAnRqYQJNi66N8k420s7b6LLoHjR4aCJxHT94I23YStZ0FNj-1s3k4ey0f3yedm_ri-OjbiopJzhlChTDoGXBqM5GI1pxpYBINRxSSTOeEciLCgOjVJek0lSVakiYklVJYZgzupnsLe9OvXudQWjFxAQF1soGYjBBKobLghPOI7r7B312Mx9TLKg85xkrMxqp_SUVI4bgQYupNxPp54JgsahBxBrEVw2RPVyyb8bC_H9Q1PX9jyNdOkxo4f3XIf2LKEpaMjG4qcWAXuHLu24tMvoJ_Y-ZNw</addsrcrecordid><sourcetype>Aggregation Database</sourcetype><iscdi>true</iscdi><recordtype>article</recordtype><pqid>1844925723</pqid></control><display><type>article</type><title>Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials</title><source>Wiley Online Library All Journals</source><creator>Nachlas, William O.</creator><creatorcontrib>Nachlas, William O.</creatorcontrib><description>This study presents an experimental procedure to fabricate high‐purity silica glass containing a selected element at a specified mass fraction. The procedure was used to prepare glasses doped with trace‐level mass fractions of Ti with the goal of improving analytical confidence when measuring trace elements in quartz. Systematic tests were performed to determine the ideal conditions and procedures for doping nanoporous silica gel with the highest efficiency of dopant recovery. Silica gel was cleaned in concentrated HCl, immersed in a non‐polar doping medium at a controlled pH and doped with precise quantities of ICP‐MS standard solution. Using liquids composed of longer chain molecules as the doping medium diminishes recovery, suggesting that large molecules could obstruct nanopores to inhibit capillary uptake of the dopant. A control experiment using crystalline quartz reinforced the effectiveness of nanoporous silica gel for doping with trace‐level precision. Layered aggregates of silica gel doped with different Ti mass fractions were hot‐pressed to create multi‐layered reference materials that were analysed with multiple techniques at a variety of spatial scales. Analyses at the intra‐grain scale (cathodoluminescence scanning electron microscopy, electron probe microanalysis), at the single grain scale (SIMS), at the sample layer scale (EPMA, laser ablation‐ICP‐MS) and at the bulk scale (ICP‐OES) demonstrated acceptable homogeneity at sample volumes characteristic of most microanalysis techniques and show that nanoporous silica gel holds promise as a highly retentive doping substrate for preparing reference materials for laser‐, electron‐ and ion‐beam microanalysis.
Cette étude présente une procédure expérimentale permettant de produire des verres de silice de haute pureté mais contenant un élément particulier avec une fraction de masse spécifique. La procédure a été utilisée pour préparer des verres dopés au Ti à bas niveau de fractions de masse dans le but d'améliorer la fiabilité de mesures dans le quartz sur des éléments présents à l’état de traces. Des tests systématiques ont été effectués afin de déterminer les conditions et procédures permettant le dopage le plus efficace possible de gel de silice nano‐poreux. Le gel de silice a été nettoyé dans de l’HCl concentré, immergé dans un milieu dopant non polaire à pH contrôlé, et dopé avec des quantités précises d'une solution d’étalonnage pour ICP‐MS. L'efficacité de dopage diminue quand le milieu dopant liquide utilisé est constitué de longues chaînes de molécules, ce qui suggère que de grandes molécules pourraient obstruer les nanopores et par‐là même inhiber l'absorption capillaire du dopant. Une expérience de contrôle utilisant du quartz cristallin a permis de renforcer l'efficacité du gel de silice nano‐poreux pour le dopage avec précision à l’état de trace. Des agrégats stratifiés de gel de silice dopé avec du Ti à différents niveaux de fractions de masse ont été pressées à chaud pour créer des matériaux de référence multicouches, ensuite analysés avec de multiples techniques à des échelles d'espace variées. Les analyses à l’échelle intra‐grain (par la cathodoluminescence SEM et EPMA), à l’échelle d'un grain (par SIMS), à l’échelle de la couche d’échantillon (EPMA, ablation laser‐ICP‐MS) et à l’échelle globale (par ICP‐OES) ont démontré des caractéristiques d'homogénéité acceptables avec la plupart des techniques de microanalyse et pour les volumes d’échantillons traités. Ces mesures ont montré que le gel de silice nano‐poreux est un matériau prometteur en tant que substrat de dopage à haute capacité de rétention pour la préparation de matériaux de référence pour la microanalyse par faisceau laser, électronique et ionique.
Key points
A method is developed for doping nanoporous silica gel with trace‐level mass fractions of Ti.
Multi‐layered aggregates of variably doped silica were fabricated and tested for use as microanalytical reference materials.
Agreement between measurements made at a variety of spatial scales demonstrates the effectiveness of silica gel as a highly retentive doping substrate.</description><identifier>ISSN: 1639-4488</identifier><identifier>EISSN: 1751-908X</identifier><identifier>DOI: 10.1111/ggr.12120</identifier><language>eng</language><publisher>Hoboken: Blackwell Publishing Ltd</publisher><subject>geochemical reference materials ; glass reference materials ; le quartz ; le verre de silice synthétique ; matériaux de référence en verre ; matériaux de référence géochimiques ; matériel de référence silicate ; NIST SRM 610 ; quartz ; silicate reference material ; synthetic silica glass ; Ti dans du quartz ; Ti in quartz ; trace elements ; éléments à l'etat de trace</subject><ispartof>Geostandards and geoanalytical research, 2016-12, Vol.40 (4), p.505-516</ispartof><rights>2016 The Author. Geostandards and Geoanalytical Research © 2016 International Association of Geoanalysts</rights><rights>Geostandards and Geoanalytical Research © 2016 International Association of Geoanalysts</rights><lds50>peer_reviewed</lds50><woscitedreferencessubscribed>false</woscitedreferencessubscribed><citedby>FETCH-LOGICAL-a3910-5cec50efa653f2dd389cce1acbb3a32921e4680e533f718f3c7cb15ca873eb453</citedby><cites>FETCH-LOGICAL-a3910-5cec50efa653f2dd389cce1acbb3a32921e4680e533f718f3c7cb15ca873eb453</cites></display><links><openurl>$$Topenurl_article</openurl><openurlfulltext>$$Topenurlfull_article</openurlfulltext><thumbnail>$$Tsyndetics_thumb_exl</thumbnail><linktopdf>$$Uhttps://onlinelibrary.wiley.com/doi/pdf/10.1111%2Fggr.12120$$EPDF$$P50$$Gwiley$$H</linktopdf><linktohtml>$$Uhttps://onlinelibrary.wiley.com/doi/full/10.1111%2Fggr.12120$$EHTML$$P50$$Gwiley$$H</linktohtml><link.rule.ids>314,780,784,1417,27923,27924,45573,45574</link.rule.ids></links><search><creatorcontrib>Nachlas, William O.</creatorcontrib><title>Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials</title><title>Geostandards and geoanalytical research</title><addtitle>Geostand Geoanal Res</addtitle><description>This study presents an experimental procedure to fabricate high‐purity silica glass containing a selected element at a specified mass fraction. The procedure was used to prepare glasses doped with trace‐level mass fractions of Ti with the goal of improving analytical confidence when measuring trace elements in quartz. Systematic tests were performed to determine the ideal conditions and procedures for doping nanoporous silica gel with the highest efficiency of dopant recovery. Silica gel was cleaned in concentrated HCl, immersed in a non‐polar doping medium at a controlled pH and doped with precise quantities of ICP‐MS standard solution. Using liquids composed of longer chain molecules as the doping medium diminishes recovery, suggesting that large molecules could obstruct nanopores to inhibit capillary uptake of the dopant. A control experiment using crystalline quartz reinforced the effectiveness of nanoporous silica gel for doping with trace‐level precision. Layered aggregates of silica gel doped with different Ti mass fractions were hot‐pressed to create multi‐layered reference materials that were analysed with multiple techniques at a variety of spatial scales. Analyses at the intra‐grain scale (cathodoluminescence scanning electron microscopy, electron probe microanalysis), at the single grain scale (SIMS), at the sample layer scale (EPMA, laser ablation‐ICP‐MS) and at the bulk scale (ICP‐OES) demonstrated acceptable homogeneity at sample volumes characteristic of most microanalysis techniques and show that nanoporous silica gel holds promise as a highly retentive doping substrate for preparing reference materials for laser‐, electron‐ and ion‐beam microanalysis.
Cette étude présente une procédure expérimentale permettant de produire des verres de silice de haute pureté mais contenant un élément particulier avec une fraction de masse spécifique. La procédure a été utilisée pour préparer des verres dopés au Ti à bas niveau de fractions de masse dans le but d'améliorer la fiabilité de mesures dans le quartz sur des éléments présents à l’état de traces. Des tests systématiques ont été effectués afin de déterminer les conditions et procédures permettant le dopage le plus efficace possible de gel de silice nano‐poreux. Le gel de silice a été nettoyé dans de l’HCl concentré, immergé dans un milieu dopant non polaire à pH contrôlé, et dopé avec des quantités précises d'une solution d’étalonnage pour ICP‐MS. L'efficacité de dopage diminue quand le milieu dopant liquide utilisé est constitué de longues chaînes de molécules, ce qui suggère que de grandes molécules pourraient obstruer les nanopores et par‐là même inhiber l'absorption capillaire du dopant. Une expérience de contrôle utilisant du quartz cristallin a permis de renforcer l'efficacité du gel de silice nano‐poreux pour le dopage avec précision à l’état de trace. Des agrégats stratifiés de gel de silice dopé avec du Ti à différents niveaux de fractions de masse ont été pressées à chaud pour créer des matériaux de référence multicouches, ensuite analysés avec de multiples techniques à des échelles d'espace variées. Les analyses à l’échelle intra‐grain (par la cathodoluminescence SEM et EPMA), à l’échelle d'un grain (par SIMS), à l’échelle de la couche d’échantillon (EPMA, ablation laser‐ICP‐MS) et à l’échelle globale (par ICP‐OES) ont démontré des caractéristiques d'homogénéité acceptables avec la plupart des techniques de microanalyse et pour les volumes d’échantillons traités. Ces mesures ont montré que le gel de silice nano‐poreux est un matériau prometteur en tant que substrat de dopage à haute capacité de rétention pour la préparation de matériaux de référence pour la microanalyse par faisceau laser, électronique et ionique.
Key points
A method is developed for doping nanoporous silica gel with trace‐level mass fractions of Ti.
Multi‐layered aggregates of variably doped silica were fabricated and tested for use as microanalytical reference materials.
Agreement between measurements made at a variety of spatial scales demonstrates the effectiveness of silica gel as a highly retentive doping substrate.</description><subject>geochemical reference materials</subject><subject>glass reference materials</subject><subject>le quartz</subject><subject>le verre de silice synthétique</subject><subject>matériaux de référence en verre</subject><subject>matériaux de référence géochimiques</subject><subject>matériel de référence silicate</subject><subject>NIST SRM 610</subject><subject>quartz</subject><subject>silicate reference material</subject><subject>synthetic silica glass</subject><subject>Ti dans du quartz</subject><subject>Ti in quartz</subject><subject>trace elements</subject><subject>éléments à l'etat de trace</subject><issn>1639-4488</issn><issn>1751-908X</issn><fulltext>true</fulltext><rsrctype>article</rsrctype><creationdate>2016</creationdate><recordtype>article</recordtype><recordid>eNp1kUlPwzAQhSMEEmU58A8scYFDwI7jJD4ilrCURbSo3CzXHReDGxc7FVT8eVwKHJCYy5vD92b09JJkh-ADEudwPPYHJCMZXkk6pGQk5bh6XI17QXma51W1nmyE8IwxyzkjneTjzoMyAZBsRuhIqZmXLaATNzXNGDmNbmTjps67WUA9Y42SqAaLtPOofQLUmzdRggkLtO-lAnRqYQJNi66N8k420s7b6LLoHjR4aCJxHT94I23YStZ0FNj-1s3k4ey0f3yedm_ri-OjbiopJzhlChTDoGXBqM5GI1pxpYBINRxSSTOeEciLCgOjVJek0lSVakiYklVJYZgzupnsLe9OvXudQWjFxAQF1soGYjBBKobLghPOI7r7B312Mx9TLKg85xkrMxqp_SUVI4bgQYupNxPp54JgsahBxBrEVw2RPVyyb8bC_H9Q1PX9jyNdOkxo4f3XIf2LKEpaMjG4qcWAXuHLu24tMvoJ_Y-ZNw</recordid><startdate>201612</startdate><enddate>201612</enddate><creator>Nachlas, William O.</creator><general>Blackwell Publishing Ltd</general><general>Wiley Subscription Services, Inc</general><scope>BSCLL</scope><scope>AAYXX</scope><scope>CITATION</scope><scope>F1W</scope><scope>H96</scope><scope>L.G</scope></search><sort><creationdate>201612</creationdate><title>Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials</title><author>Nachlas, William O.</author></sort><facets><frbrtype>5</frbrtype><frbrgroupid>cdi_FETCH-LOGICAL-a3910-5cec50efa653f2dd389cce1acbb3a32921e4680e533f718f3c7cb15ca873eb453</frbrgroupid><rsrctype>articles</rsrctype><prefilter>articles</prefilter><language>eng</language><creationdate>2016</creationdate><topic>geochemical reference materials</topic><topic>glass reference materials</topic><topic>le quartz</topic><topic>le verre de silice synthétique</topic><topic>matériaux de référence en verre</topic><topic>matériaux de référence géochimiques</topic><topic>matériel de référence silicate</topic><topic>NIST SRM 610</topic><topic>quartz</topic><topic>silicate reference material</topic><topic>synthetic silica glass</topic><topic>Ti dans du quartz</topic><topic>Ti in quartz</topic><topic>trace elements</topic><topic>éléments à l'etat de trace</topic><toplevel>peer_reviewed</toplevel><toplevel>online_resources</toplevel><creatorcontrib>Nachlas, William O.</creatorcontrib><collection>Istex</collection><collection>CrossRef</collection><collection>ASFA: Aquatic Sciences and Fisheries Abstracts</collection><collection>Aquatic Science & Fisheries Abstracts (ASFA) 2: Ocean Technology, Policy & Non-Living Resources</collection><collection>Aquatic Science & Fisheries Abstracts (ASFA) Professional</collection><jtitle>Geostandards and geoanalytical research</jtitle></facets><delivery><delcategory>Remote Search Resource</delcategory><fulltext>fulltext</fulltext></delivery><addata><au>Nachlas, William O.</au><format>journal</format><genre>article</genre><ristype>JOUR</ristype><atitle>Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials</atitle><jtitle>Geostandards and geoanalytical research</jtitle><addtitle>Geostand Geoanal Res</addtitle><date>2016-12</date><risdate>2016</risdate><volume>40</volume><issue>4</issue><spage>505</spage><epage>516</epage><pages>505-516</pages><issn>1639-4488</issn><eissn>1751-908X</eissn><abstract>This study presents an experimental procedure to fabricate high‐purity silica glass containing a selected element at a specified mass fraction. The procedure was used to prepare glasses doped with trace‐level mass fractions of Ti with the goal of improving analytical confidence when measuring trace elements in quartz. Systematic tests were performed to determine the ideal conditions and procedures for doping nanoporous silica gel with the highest efficiency of dopant recovery. Silica gel was cleaned in concentrated HCl, immersed in a non‐polar doping medium at a controlled pH and doped with precise quantities of ICP‐MS standard solution. Using liquids composed of longer chain molecules as the doping medium diminishes recovery, suggesting that large molecules could obstruct nanopores to inhibit capillary uptake of the dopant. A control experiment using crystalline quartz reinforced the effectiveness of nanoporous silica gel for doping with trace‐level precision. Layered aggregates of silica gel doped with different Ti mass fractions were hot‐pressed to create multi‐layered reference materials that were analysed with multiple techniques at a variety of spatial scales. Analyses at the intra‐grain scale (cathodoluminescence scanning electron microscopy, electron probe microanalysis), at the single grain scale (SIMS), at the sample layer scale (EPMA, laser ablation‐ICP‐MS) and at the bulk scale (ICP‐OES) demonstrated acceptable homogeneity at sample volumes characteristic of most microanalysis techniques and show that nanoporous silica gel holds promise as a highly retentive doping substrate for preparing reference materials for laser‐, electron‐ and ion‐beam microanalysis.
Cette étude présente une procédure expérimentale permettant de produire des verres de silice de haute pureté mais contenant un élément particulier avec une fraction de masse spécifique. La procédure a été utilisée pour préparer des verres dopés au Ti à bas niveau de fractions de masse dans le but d'améliorer la fiabilité de mesures dans le quartz sur des éléments présents à l’état de traces. Des tests systématiques ont été effectués afin de déterminer les conditions et procédures permettant le dopage le plus efficace possible de gel de silice nano‐poreux. Le gel de silice a été nettoyé dans de l’HCl concentré, immergé dans un milieu dopant non polaire à pH contrôlé, et dopé avec des quantités précises d'une solution d’étalonnage pour ICP‐MS. L'efficacité de dopage diminue quand le milieu dopant liquide utilisé est constitué de longues chaînes de molécules, ce qui suggère que de grandes molécules pourraient obstruer les nanopores et par‐là même inhiber l'absorption capillaire du dopant. Une expérience de contrôle utilisant du quartz cristallin a permis de renforcer l'efficacité du gel de silice nano‐poreux pour le dopage avec précision à l’état de trace. Des agrégats stratifiés de gel de silice dopé avec du Ti à différents niveaux de fractions de masse ont été pressées à chaud pour créer des matériaux de référence multicouches, ensuite analysés avec de multiples techniques à des échelles d'espace variées. Les analyses à l’échelle intra‐grain (par la cathodoluminescence SEM et EPMA), à l’échelle d'un grain (par SIMS), à l’échelle de la couche d’échantillon (EPMA, ablation laser‐ICP‐MS) et à l’échelle globale (par ICP‐OES) ont démontré des caractéristiques d'homogénéité acceptables avec la plupart des techniques de microanalyse et pour les volumes d’échantillons traités. Ces mesures ont montré que le gel de silice nano‐poreux est un matériau prometteur en tant que substrat de dopage à haute capacité de rétention pour la préparation de matériaux de référence pour la microanalyse par faisceau laser, électronique et ionique.
Key points
A method is developed for doping nanoporous silica gel with trace‐level mass fractions of Ti.
Multi‐layered aggregates of variably doped silica were fabricated and tested for use as microanalytical reference materials.
Agreement between measurements made at a variety of spatial scales demonstrates the effectiveness of silica gel as a highly retentive doping substrate.</abstract><cop>Hoboken</cop><pub>Blackwell Publishing Ltd</pub><doi>10.1111/ggr.12120</doi><tpages>12</tpages></addata></record> |
fulltext | fulltext |
identifier | ISSN: 1639-4488 |
ispartof | Geostandards and geoanalytical research, 2016-12, Vol.40 (4), p.505-516 |
issn | 1639-4488 1751-908X |
language | eng |
recordid | cdi_proquest_miscellaneous_1850769199 |
source | Wiley Online Library All Journals |
subjects | geochemical reference materials glass reference materials le quartz le verre de silice synthétique matériaux de référence en verre matériaux de référence géochimiques matériel de référence silicate NIST SRM 610 quartz silicate reference material synthetic silica glass Ti dans du quartz Ti in quartz trace elements éléments à l'etat de trace |
title | Precise and Accurate Doping of Nanoporous Silica Gel for the Synthesis of Trace Element Microanalytical Reference Materials |
url | https://sfx.bib-bvb.de/sfx_tum?ctx_ver=Z39.88-2004&ctx_enc=info:ofi/enc:UTF-8&ctx_tim=2025-01-08T18%3A10%3A38IST&url_ver=Z39.88-2004&url_ctx_fmt=infofi/fmt:kev:mtx:ctx&rfr_id=info:sid/primo.exlibrisgroup.com:primo3-Article-proquest_cross&rft_val_fmt=info:ofi/fmt:kev:mtx:journal&rft.genre=article&rft.atitle=Precise%20and%20Accurate%20Doping%20of%20Nanoporous%20Silica%20Gel%20for%20the%20Synthesis%20of%20Trace%20Element%20Microanalytical%20Reference%20Materials&rft.jtitle=Geostandards%20and%20geoanalytical%20research&rft.au=Nachlas,%20William%20O.&rft.date=2016-12&rft.volume=40&rft.issue=4&rft.spage=505&rft.epage=516&rft.pages=505-516&rft.issn=1639-4488&rft.eissn=1751-908X&rft_id=info:doi/10.1111/ggr.12120&rft_dat=%3Cproquest_cross%3E4266377621%3C/proquest_cross%3E%3Curl%3E%3C/url%3E&disable_directlink=true&sfx.directlink=off&sfx.report_link=0&rft_id=info:oai/&rft_pqid=1844925723&rft_id=info:pmid/&rfr_iscdi=true |