Large-Area Dry Transfer of Single-Crystalline Epitaxial Bismuth Thin Films

We report the first direct dry transfer of a single-crystalline thin film grown by molecular beam epitaxy. A double cantilever beam fracture technique was used to transfer epitaxial bismuth thin films grown on silicon (111) to silicon strips coated with epoxy. The transferred bismuth films retained...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Nano letters 2016-11, Vol.16 (11), p.6931-6938
Hauptverfasser:	Walker, Emily S, Na, Seung Ryul, Jung, Daehwan, March, Stephen D, Kim, Joon-Seok, Trivedi, Tanuj, Li, Wei, Tao, Li, Lee, Minjoo L, Liechti, Kenneth M, Akinwande, Deji, Bank, Seth R
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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