Nucleation and Conformality of Iridium and Iridium Oxide Thin Films Grown by Atomic Layer Deposition
Nucleation and conformality are important issues, when depositing thin films for demanding applications. In this study, iridium and iridium dioxide (IrO2) films were deposited by atomic layer deposition (ALD), using five different processes. Different reactants, namely, O2, air, consecutive O2 and H...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | Langmuir 2016-10, Vol.32 (41), p.10559-10569 |
---|---|
Hauptverfasser: | , , , , , , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!