Defect structure evolution and abnormal grain growth during spark plasma sintering of nano WC–Si powders

The microstructural evolution during spark plasma sintering of ultrafine WC–1 wt% Si (n-WC–Si) is presented. At 1323 K (T < TmSi), extensive stacking faults on the $\left\{ {10\bar 10} \right\}$ prismatic planes are observed. The defect microstructure can be described as a combined shear of $1/6\...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of materials research 2016-05, Vol.31 (10), p.1466-1476
Hauptverfasser: Kumar, A.K. Nanda, Subramanian, B., Kurokawa, Kazuya
Format: Artikel
Sprache:eng
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