Local structure of oxygen-deficient Yttrium oxide

Yttrium oxide thin films have been deposited on Si （100） substrate by using pulsed laser deposition （PLD） method. X-ray diffraction （XRD）, hard and soft X-ray absorption spectroscopy （XAFS） are employed to investigate the origin of oxygen vacancies and their influence on the structure and atomic dis...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Chinese physics C 2013-09, Vol.37 (9), p.89-93
1. Verfasser:	程学瑞代海洋戚泽明王玉银张国斌
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Atomic beam spectroscopy Atomic structure Silicon substrates Si（100） Thin films Vacancies X-ray diffraction X-rays X-射线衍射 X射线吸收光谱 Yttrium oxide 原子分布局部结构氧化薄膜氧化钇脉冲激光沉积
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Schreiben Sie den ersten Kommentar!