In-situ monitoring of CuInSe2 thin films growth by light scattering
Light scattering spectroscopy, mainly developed for Cu(In,Ga)Se2 thin films growth, has been demonstrated to be an efficient in-situ monitoring tool. It consists of illuminating the substrate surface using a light source and collecting the diffused light with a spectrometer. The on-line information...
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Veröffentlicht in: | Thin solid films 2015-05, Vol.582, p.276-278 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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