Size-dependent radiation tolerance in ion irradiated TiN/AlN nanolayer films

Interface effects on ion-irradiation tolerance properties are investigated in nanolayered TiN/AlN films with individual layer thickness varied from 5nm to 50nm, prepared by pulsed laser deposition. Evolution of the microstructure and hardness of the multilayer films are examined on the specimens bef...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of nuclear materials 2013-10, Vol.441 (1-3), p.47-53
Hauptverfasser: Kim, I., Jiao, L., Khatkhatay, F., Martin, M.S., Lee, J., Shao, L., Zhang, X., Swadener, J.G., Wang, Y.Q., Gan, J., Cole, J.I., Wang, H.
Format: Artikel
Sprache:eng
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