Soft Fault Classification of Analog Circuits Using Network Parameters and Neural Networks

A new method to identify component faults in analog circuits is proposed using network parameters like driving point impedance, transfer impedance, voltage gain and current gain. Using Monte-Carlo simulation each component of the circuit is varied within its tolerance limit and samples of each netwo...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of electronic testing 2013-04, Vol.29 (2), p.237-240
Hauptverfasser: Kavithamani, A., Manikandan, V., Devarajan, N.
Format: Artikel
Sprache:eng
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