Soft Fault Classification of Analog Circuits Using Network Parameters and Neural Networks
A new method to identify component faults in analog circuits is proposed using network parameters like driving point impedance, transfer impedance, voltage gain and current gain. Using Monte-Carlo simulation each component of the circuit is varied within its tolerance limit and samples of each netwo...
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Veröffentlicht in: | Journal of electronic testing 2013-04, Vol.29 (2), p.237-240 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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