Light-emitting Si nanostructures formed in silica layers by irradiation with swift heavy ions

Thin SiO 2 layers were implanted with 140 keV Si ions to a dose of 10 17  cm −2 . The samples were irradiated with 130 Mev Xe ions in the dose range of 3×10 12 –10 14  cm −2 , either directly after implantation or after pre-annealing to form the embedded Si nanocrystals. In the as-implanted layers H...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Applied physics. A, Materials science & processing Materials science & processing, 2010-03, Vol.98 (4), p.873-877
Hauptverfasser: Kachurin, G. A., Cherkova, S. G., Marin, D. V., Cherkov, A. G., Skuratov, V. A.
Format: Artikel
Sprache:eng
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