Quantitative Analysis and Optimization of Gravure Printed Metal Ink, Dielectric, and Organic Semiconductor Films
Here we demonstrate the optimization of gravure printed metal ink, dielectric, and semiconductor formulations. We present a technique for nondestructively imaging printed films using a commercially available flatbed scanner, combined with image analysis to quantify print behavior. Print speed, clich...
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Veröffentlicht in: | ACS applied materials & interfaces 2015-03, Vol.7 (9), p.5045-5050 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Online-Zugang: | Volltext |
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