Software-based self-test generation for microprocessors with high-level decision diagrams
This article presents a novel approach to automated behavioural level test program generation for microprocessors, using the model of high-level decision diagrams (HLDD) for representing instruction sets. The methodology of using HLDDs for modelling of microprocessors, and a new HLDD-based fault mod...
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Veröffentlicht in: | Proceedings of the Estonian Academy of Sciences 2014-01, Vol.63 (1), p.48-48 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
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