Crystal Structural Study of Ho-doped Ceria Using X-ray Powder Diffraction Data

Crystal structural analysis of Ho-doped ceria (Ce 0.7 Ho 0.3 O 1.85 ) was performed using both conventional laboratory and synchrotron X-ray diffraction (XRD) data. In the laboratory XRD data, a poor refinement result was achieved based on a cubic phase (space group Fm -3  m , No.225); weighted ( R...

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Veröffentlicht in:Journal of electroceramics 2013-10, Vol.31 (1-2), p.254-259
Hauptverfasser: Kim, Yong-Il, Jeon, Min Ku, Im, Won-Bin
Format: Artikel
Sprache:eng
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