Crystal Structural Study of Ho-doped Ceria Using X-ray Powder Diffraction Data
Crystal structural analysis of Ho-doped ceria (Ce 0.7 Ho 0.3 O 1.85 ) was performed using both conventional laboratory and synchrotron X-ray diffraction (XRD) data. In the laboratory XRD data, a poor refinement result was achieved based on a cubic phase (space group Fm -3 m , No.225); weighted ( R...
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Veröffentlicht in: | Journal of electroceramics 2013-10, Vol.31 (1-2), p.254-259 |
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Hauptverfasser: | , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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