Key process study in nanoimprint lithography

Nanoimprint lithography(NIL) is widely used in the fabrication of nano-scale semiconductor devices for its advantages of high resolution,low cost,and high throughput.However,traditional hard stamp imprinting has some drawbacks such as short stamp lifetime,bad uniformity in big areas,and large partic...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of semiconductors 2012-10, Vol.33 (10), p.138-141
1. Verfasser: 王智浩 刘文 王磊 左强 赵彦立
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!