Lateral resolution of 28 nm (λ /25) in far-field fluorescence microscopy

We demonstrate sub-diffraction lateral resolution of 28c2 nm in far-field fluorescence microscopy through stimulated emission depletion effected by an amplified laser diode. Measurement of the optical transfer function in the focal plane reveals a 6-fold enlargement of the spatial bandwith over the...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Applied physics. B, Lasers and optics Lasers and optics, 2003-10, Vol.77 (4), p.377-380
Hauptverfasser:	Westphal, V., Kastrup, L., Hell, S.W.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Enlargement Fluorescence Focal plane Imaging Lasers Microscopy Nanostructure Stimulated emission
Online-Zugang:	Volltext
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