Quantitative phase and refractive index measurements with point-source digital in-line holographic microscopy
Point-source digital in-line holographic microscopy with numerical reconstruction is ideally suited for quantitative phase measurements to determine optical path lengths and to extract changes in refractive index within accuracy close to 0.001 on the submicrometer length scale. This is demonstrated...
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Veröffentlicht in: | Applied optics (2004) 2012-04, Vol.51 (10), p.1503-1515 |
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Hauptverfasser: | , , , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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