Progress in the methodologies for the electrical modeling of interconnects and electronic packages

The rapid growth of the electrical modeling and analysis of the interconnect structure, both at the electronic chip and package level, can be attributed to the increasing importance of the electromagnetic properties of the interconnect circuit on the overall electrical performance of state-of-the-ar...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Proceedings of the IEEE 2001-05, Vol.89 (5), p.740-771
Hauptverfasser: Ruehli, A.E., Cangellaris, A.C.
Format: Artikel
Sprache:eng
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