Oxide-film growth kinetics on Zr(0001) and Zr(1010) single-crystal surfaces

Oxide-film growth kinetics on Zr(0001) and Zr(1010) single-crystal surfaces

The growth kinetics of very thin (

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Surface and interface analysis 2010-06, Vol.42 (6-7), p.588-591
Hauptverfasser: Bakradze, Georgijs, Jeurgens, Lars P. H., Mittemeijer, Eric J.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Annealing
Cleaning
Ellipsometry
growth kinetics
Interface analysis
Monitoring
oxidation
Oxide coatings
Single crystals
single-crystalline metal surfaces
Ultrahigh vacuum
Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:The growth kinetics of very thin (
ISSN:0142-2421
1096-9918
1096-9918
DOI:10.1002/sia.3235