Debris and smear removal in flattened root canals after use of different irrigant agitation protocols
Scanning electron microscopy (SEM) can be used to analyze the presence of debris and smear layer on the internal walls of root canal. This study evaluated the debris and smear removal in flattened root canals using SEM after use of different irrigant agitation protocols. Fifty mandibular incisors we...
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Veröffentlicht in: | Microscopy research and technique 2012-06, Vol.75 (6), p.781-790 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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