Effect of thermal treatment on the characteristics of iridium Schottky barrier diodes on n-Ge (1 0 0)
► Ir/n-Ge (1 0 0) Schottky diodes were characterized using I– V, C– V and SEM techniques under various annealing conditions. ► The variation of the electrical and structural properties can be due to effects phase transformation during annealing. ► Thermal stability of these diodes is maintained up t...
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Veröffentlicht in: | Journal of alloys and compounds 2012-02, Vol.513, p.44-49 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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