Two-Pulse [Formula Omitted]-[Formula Omitted]: A New Method for Characterizing Electron Traps in the Bulk of [Formula Omitted] Dielectric Stacks

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	IEEE electron device letters 2008-09, Vol.29 (9), p.1043
Hauptverfasser:	Zhang, W.D, Govoreanu, B, Zheng, X.F, Ruiz Aguado, D, Rosmeulen, M, Blomme, P, Zhang, J.F, Van Houdt, J
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Online-Zugang:	Volltext
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