Transient sensitivity computation in controlled explicit piecewise linear simulation

This paper presents a general method for computing transient sensitivities using both direct and adjoint methods in controlled explicit event driven simulation algorithms that employ piecewise linear device models. Sensitivity information provides first order assessment of circuit variability with r...

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Veröffentlicht in:IEEE transactions on computer-aided design of integrated circuits and systems 2000-01, Vol.19 (1), p.98-110
Hauptverfasser: Nguyen, T.V., Devgan, A., Nastov, O.J., Winston, D.W.
Format: Artikel
Sprache:eng
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