Fabrication of 0.3-μm T-gate metamorphic AlInAs/GaInAs HEMTs on silicon substrates using metal organic chemical vapor deposition

We present an InGaAs metamorphic high electron mobility transistor (mHEMT) grown using Metalorganic Chemical Vapor Deposition (MOCVD) on an n-type silicon substrate with the introduction of an effective multi-stage buffering scheme. Fabrication and performance of a high-frequency 0.3μm gate-length d...

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Veröffentlicht in:Science China. Physics, mechanics & astronomy mechanics & astronomy, 2012-04, Vol.55 (4), p.644-648
Hauptverfasser: Li, HaiOu, Huang, Wei, Li, Qi, Li, SiMin, Jiang, Xi, Tang, ChakWah, Lau, KeiMay, Zhang, TianWen
Format: Artikel
Sprache:eng
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