Fabrication of 0.3-μm T-gate metamorphic AlInAs/GaInAs HEMTs on silicon substrates using metal organic chemical vapor deposition
We present an InGaAs metamorphic high electron mobility transistor (mHEMT) grown using Metalorganic Chemical Vapor Deposition (MOCVD) on an n-type silicon substrate with the introduction of an effective multi-stage buffering scheme. Fabrication and performance of a high-frequency 0.3μm gate-length d...
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Veröffentlicht in: | Science China. Physics, mechanics & astronomy mechanics & astronomy, 2012-04, Vol.55 (4), p.644-648 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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