Phase-field simulations of polarization variations in polycrystalline Hf0.5Zr0.5O2 based MFIM: Voltage dependence and dynamics

In this work, we investigate the device-to-device variations in the remanent polarization of metal–ferroelectric–insulator–metal stacks based on ferroelectric hafnium–zirconium–oxide (HZO). Our study employs a 3D dynamic multi-grain phase-field model to consider the effects of the polycrystalline na...

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Veröffentlicht in:Journal of applied physics 2023-08, Vol.134 (8)
Hauptverfasser: Koduru, Revanth, Ahmed, Imtiaz, Saha, Atanu K., Lyu, Xiao, Ye, Peide, Gupta, Sumeet K.
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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