Multi-Layer Material Characterization at Ka-Band Using Bayesian Inversion Method

This paper presents the implementation of the Bayesian inversion method for the characterization and estimation of different dielectric material properties. The scattering parameters of single and multi-layer materials are measured using a free-space experimental setup using a standard gain horn ant...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Electronics (Basel) 2023-02, Vol.12 (3), p.563
Hauptverfasser:	Shahid, Saleem, Gentili, Gian Guido, Bernasconi, Giancarlo, Nawaz, Hamza, Rana, Ahsan S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Antennas Antennas (Electronics) Bayesian analysis Dielectric properties Dielectrics Eigenvectors Epoxy resins Extremely high frequencies Horn antennas Inverse problems Material properties Multilayers Network analysers Nondestructive testing Parameter estimation Permittivity S parameters Spectrum allocation Thickness
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!

Schreiben Sie den ersten Kommentar!