Totally asymmetric simple exclusion process with a single defect coupling on-ramp

In this paper, we study the effect of a single defect coupling on-ramp on a totally asymmetric simple exclusion process. Both theoretical and simulative methods are employed to analyze the changes in the phase diagrams with the hopping rate p at the defect site and the on-ramp rate q . The results d...

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Veröffentlicht in:Indian journal of physics 2022-11, Vol.96 (13), p.4051-4058
Hauptverfasser: Cui, Xiaoling, Liu, Yanna, Xiao, Song
Format: Artikel
Sprache:eng
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