Advanced, Kerr-microscopy-based MOKE magnetometry for the anisotropy characterisation of magnetic films

•Analysis of the longitudinal Kerr contrast in a wide-field magneto-optical Kerr.•All directional in-plane magnetisation reversal loops measurement.•In-plane mechanical adjustment free anisotropy measurements.•Anisotropy of iron oxide thin films.•Stress induced anisotropy change of NiFe thin films.s...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Journal of magnetism and magnetic materials 2021-07, Vol.529, p.167889, Article 167889
Hauptverfasser:	Soldatov, I.V., Zehner, J., Leistner, K., Kang, T., Karnaushenko, D., Schäfer, R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Anisotropy Directional sensitivity Imaging techniques Kerr effects Magnetic anisotropy Magnetic films Magnetic measurement Magnetization reversal Microscopy Nickel iron Polarized light Sample holders Substrates Thin films
Online-Zugang:	Volltext
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