Noise limit on practical electron ptychography
Ptychography is a wavelength-limited phase retrieval method that promises to provide sub-0.5Å resolution in the electron microscope, even if the lens employed (which is required only to form an illumination spot) can itself only achieve rather modest resolution. The fidelity of a practical specimen...
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Veröffentlicht in: | Journal of physics. Conference series 2010-07, Vol.241 (1), p.012065 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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