Indentation-induced dislocations and cracks in (0001) freestanding and epitaxial GaN

The (0001) surface of freestanding GaN and an (0001) oriented epitaxial GaN layer of 3 μm thickness on sapphire have been deformed at room temperature using a Vickers indenter. The samples were indented with two different orientations of the indenter with loads in the range from 0.02 to 4.90 N and 0...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Journal of physics. Conference series 2011-02, Vol.281 (1), p.012007-9
Hauptverfasser: Ratschinski, I, Leipner, H S, Heyroth, F, Fränzel, W, Moutanabbir, O, Hammer, R, Jurisch, M
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext bestellen
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!