Recent developments in soft X-ray emission spectroscopy microscopy

This paper discusses the path to the commercialization of a soft-X-ray emission spectrometer system for EPMA/SEM, its application, how it can be used to investigate new materials, and offers an update on improvements being investigated to further optimise the performance. The ultimate energy resolut...

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Veröffentlicht in:IOP conference series. Materials Science and Engineering 2020-07, Vol.891 (1), p.12022
Hauptverfasser: Terauchi, M, Hatano, T, Koike, M, Pirozhkov, A S, Sasai, H, Nagano, T, Takakura, M, Murano, T
Format: Artikel
Sprache:eng
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