Extreme Temperature Operation of Ultra-Wide Bandgap AlGaN High Electron Mobility Transistors

High Aluminum content channel (Al 0.85 Ga 0.15 N/Al 0.7 Ga 0.3 N) High Electron Mobility Transistors (HEMTs) were operated from room temperature to 500°C in ambient. The devices exhibited only moderate reduction, 58%, in on-state forward current. Gate lag measurements at 100 kHz and 10% duty only sh...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:IEEE transactions on semiconductor manufacturing 2019-11, Vol.32 (4), p.473-477
Hauptverfasser: Carey, Patrick H., Pearton, Stephen J., Ren, Fan, Baca, Albert G., Klein, Brianna A., Allerman, Andrew A., Armstrong, Andrew M., Douglas, Erica A., Kaplar, Robert J., Kotula, Paul G.
Format: Artikel
Sprache:eng
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