Kinetics of small molecule adsorption studied using precision ellipsometry

On the basis of a miniature polarisation modulator, a precision ellipsometry system has been made, enabling real‐time measurement of subnanometre thin layers on reflecting substrates. This system monitored the kinetics of adsorption and desorption of propanol, or ethanol, or methanol on oxidised Si...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Surface and interface analysis 2019-07, Vol.51 (7), p.697-702
Hauptverfasser:	Yakovlev, Nikolai L., Quek, Hou Chin, Dąbrowski, Karol M., Birch, William R.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Adsorption Ellipsometry Ethanol Methanol Silicon substrates Solid surfaces Surface chemistry Thickness Thin films
Online-Zugang:	Volltext
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