First Measurement Results of new SDD Detectors with DEPFET Based readout Node and Minimized Input Capacitance

Extended abstract of a paper presented at Microscopy and Microanalysis 2013 in Indianapolis, Indiana, USA, August 4 – August 8, 2013.

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2013-08, Vol.19 (S2), p.1276-1277
Hauptverfasser:	Treis, J., Bähr, A., Eckhardt, R., Heinzinger, K., Hermenau, K., Lutz, G., Majewski, P., Niculae, A., Soltau, H., Strüder, L.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A16.P1 X-ray Microanalysis in Modern Electron Optical Instruments: Is It Really Quantitative in Today's Diverse Architectures? Capacitance Instrumentation Sciences
Online-Zugang:	Volltext
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