Advanced Data Acquisition From Electron Microscopes With SerialEM

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2018-08, Vol.24 (S1), p.864-865
1. Verfasser:	Mastronarde, David N.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Analytical and Instrumentation Science Symposia Data acquisition Electron microscopes Microscopes Pushing the Limits of Cryo-EM
Online-Zugang:	Volltext
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