Advances in digital topography for characterizing imperfections in protein crystals
A system which joins digital topography with fine ϕ‐sliced reflection profiling has been developed and applied to cryocrystallography. In this demonstration, fifteen fine ϕ‐sliced reflection profiles with corresponding topographic sequences are evaluated: twelve reflections from a crystal at cryogen...
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Veröffentlicht in: | Journal of applied crystallography 2005-06, Vol.38 (3), p.512-519 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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Online-Zugang: | Volltext |
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