Hexagonal AlN Layers Grown on Sulfided Si(100) Substrate

We have studied the influence of sulfide passivation on the initial stages of aluminum nitride (AlN)-layer nucleation and growth by hydride vapor-phase epitaxy (HVPE) on (100)-oriented single-crystalline silicon substrates. It is established that the substrate pretreatment in (NH 4 ) 2 S aqueous sol...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Technical physics letters 2018, Vol.44 (1), p.81-83
Hauptverfasser: Bessolov, V. N., Gushchina, E. V., Konenkova, E. V., L’vova, T. V., Panteleev, V. N., Shcheglov, M. P.
Format: Artikel
Sprache:eng
Schlagworte:
Online-Zugang:Volltext
Tags: Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!