Viscoelastic mapping of spruce-polyurethane bond line area using AM-FM atomic force microscopy
Amplitude modulation-frequency modulation atomic force microscopy (AM-FM AFM) with the capability of mapping simultaneously the topography and the nanomechanical properties of materials provides elastic information including Young's modulus, and loss tangent as viscoelastic information. The AM-...
Gespeichert in:
Veröffentlicht in: | International journal of adhesion and adhesives 2017-12, Vol.79, p.59-66 |
---|---|
Hauptverfasser: | , |
Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Schreiben Sie den ersten Kommentar!