Viscoelastic mapping of spruce-polyurethane bond line area using AM-FM atomic force microscopy

Amplitude modulation-frequency modulation atomic force microscopy (AM-FM AFM) with the capability of mapping simultaneously the topography and the nanomechanical properties of materials provides elastic information including Young's modulus, and loss tangent as viscoelastic information. The AM-...

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Veröffentlicht in:International journal of adhesion and adhesives 2017-12, Vol.79, p.59-66
Hauptverfasser: Mahani, Zahra Naghizadeh, Tajvidi, Mehdi
Format: Artikel
Sprache:eng
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