Photoreflectance of indium antimonide
The photoreflectance spectra of n -InSb layers were measured using photomodulation Fourier transform infrared spectroscopy. The samples were grown by molecular beam epitaxy on heavily doped n + -InSb(001) substrates annealed under different conditions. The strength of the near-surface electric field...
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Veröffentlicht in: | Physics of the solid state 2016-12, Vol.58 (12), p.2394-2400 |
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Format: | Artikel |
Sprache: | eng |
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