Photoreflectance of indium antimonide

The photoreflectance spectra of n -InSb layers were measured using photomodulation Fourier transform infrared spectroscopy. The samples were grown by molecular beam epitaxy on heavily doped n + -InSb(001) substrates annealed under different conditions. The strength of the near-surface electric field...

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Physics of the solid state 2016-12, Vol.58 (12), p.2394-2400
Hauptverfasser: Komkov, O. S., Firsov, D. D., Lvova, T. V., Sedova, I. V., Semenov, A. N., Solov’ev, V. A., Ivanov, S. V.
Format: Artikel
Sprache:eng
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