New Technology and Approaches for the Acceleration and Enhancement of Microstructural Characterization using Electron Backscatter Diffraction

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1173-1174
Hauptverfasser: Nowell, Matthew M., Wright, Stuart I., Rampton, Travis, Stromberg, Ryan J., Bhowmich, Sanjit, Shibata, Masateru, Erdman, Natasha
Format: Artikel
Sprache:eng
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:
ISSN:1431-9276
1435-8115
DOI:10.1017/S1431927615006650