めっき腐食生成物のXAFSによる評価

X線吸収微細構造(XAFS)による分析について,ほかの表面分析技術との違いを明らかにするため,複合サイクル試験後の溶融亜鉛めっき鋼板を,XAFS,走査電子顕微鏡(SEM),X線光電子分光法(XPS)及びX線回折で測定し,結果を比較した.試料は溶融亜鉛めっき鋼板及び溶融亜鉛合金めっき鋼板で,これらの複合サイクル試験前,試験途中,試験後の表面を各分析法で評価した.その結果,XAFSではSEMによる元素分析ではわからない価数の変化を知ることができ,また.XAFS測定手法を変えることで表面数nmから数μmの情報を取り出すことが可能であった....

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Veröffentlicht in:Journal of Surface Analysis 2016, Vol.23(1), pp.19-29
Hauptverfasser: 杉山, 信之, 吉田, 陽子, 杉本, 貴紀, 中尾, 俊章, 小林, 弘明
Format: Artikel
Sprache:jpn
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Online-Zugang:Volltext
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Beschreibung
Zusammenfassung:X線吸収微細構造(XAFS)による分析について,ほかの表面分析技術との違いを明らかにするため,複合サイクル試験後の溶融亜鉛めっき鋼板を,XAFS,走査電子顕微鏡(SEM),X線光電子分光法(XPS)及びX線回折で測定し,結果を比較した.試料は溶融亜鉛めっき鋼板及び溶融亜鉛合金めっき鋼板で,これらの複合サイクル試験前,試験途中,試験後の表面を各分析法で評価した.その結果,XAFSではSEMによる元素分析ではわからない価数の変化を知ることができ,また.XAFS測定手法を変えることで表面数nmから数μmの情報を取り出すことが可能であった.
ISSN:1341-1756
1347-8400
DOI:10.1384/jsa.23.19