Reconstruction Strategies for Combined Tilt- and Focal Series Scanning Transmission Electron Microscopy

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.2337-2338
Hauptverfasser:	Dahmen, Tim, Kohr, Holger, de Jonge, Niels, Slusallek, Philipp
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A06 Advanced Analytical TEM/STEM Algorithms Analytical and Instrumentation Science Symposia Electrons Fourier transforms Transmission electron microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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