Linear chemically sensitive electron tomography using DualEELS and compressed sensing

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.2341-2342
Hauptverfasser:	AlAfeef, Alaa, Paul Cockshott, W., Barges, Patrick, Zuazo, Ian, Bobynko, Joanna, Craven, Alan J., Maclaren, Ian
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A06 Advanced Analytical TEM/STEM Algorithms Analytical and Instrumentation Science Symposia Manganese steel Microscopy Morphology Nanostructured materials Tomography
Online-Zugang:	Volltext
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