Thin-Film-Based Phase Plates for Transmission Electron Microscopy Fabricated From Metallic Glasses

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2015-08, Vol.21 (S3), p.1575-1576
Hauptverfasser:	Dries, M., Hettler, S., Schulze, T., Send, W., Miiller, E., Schneider, R., Gerthsen, D., Luo, Y., Samwer, K.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	A02 TEM Phase Contrast Imaging Analytical and Instrumentation Science Symposia Carbon Electron microscopes Spectrum analysis Thin films Transmission electron microscopy
Online-Zugang:	Volltext
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