Present State of TEM-SXES Analysis and its Application to SEM aiming Chemical Analysis of Bulk Materials

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.682-683
Hauptverfasser:	Terauchi, M., Takahashi, H., Handa, N., Murano, T., Koike, M., Imazono, T., Koeda, M., Nagano, T., Sasai, H., Oue, Y., Yonezawa, Z., Kuramoto, S.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Chemical analysis Frontiers of Electron-Probe Microanalysis
Online-Zugang:	Volltext
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