High Resolution Observations of Interface Dynamics Using a Direct Electron Detection Camera

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.1594-1595
Hauptverfasser:	Radetic, T., Gautam, A., Ophus, C., Czarnik, C., Dahmen, U.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in In-situ Microscopy Physical Sciences Symposia
Online-Zugang:	Volltext
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