Interfaces and Extended Structural Defects in Chalcopyrite Thin-Film Solar Cells Studied by Transmission Electron Microscopy

Bibliographische Detailangaben

Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.530-531
Hauptverfasser:	Schmidt, S. S., Dietrich, J., Koch, C. T., Schaffer, B., Schaffer, M., Klingsporn, M., Merdes, S., Abou-Ras, D.
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Nano-Characterization of Emerging Photovoltaic Materials and Devices Solar cells Thin films
Online-Zugang:	Volltext
Tags:	Tag hinzufügen Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!