Advances in Scattered Electron Intensity Distribution Imaging for Microstructural Visualization and Correlations with EBSD Measurements

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Bibliographische Detailangaben
Veröffentlicht in:	Microscopy and microanalysis 2014-08, Vol.20 (S3), p.856-857
Hauptverfasser:	Nowell, Matthew M., Wright, Stuart I., Rampton, Travis, de Kloe, René
Format:	Artikel
Sprache:	eng
Schlagworte:	Advances in Instrumentation Symposia Practical Applications and Analytical Trends of Metallography and Microstructure
Online-Zugang:	Volltext
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